X射线衍射仪-XRD全称X射线衍射（X-RayDiffraction），利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等。XRD衍射仪的适用性很广，通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料，并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点。

 X射线衍射仪优势

 光学系统调整自动化：

 从X射线源到光学元件、测角仪、样品台以及检测器等全部系统都可以自动调整。当自动调整开始后，仪器会自动将X射线源的高度、角度、CBO光学系统、入射单色器、狭缝高度、样品表面位置及检测器角度调整至最佳状态。

 高分辨率的应力·选择取向测试简便化

 使用Ultima IV的自动调整装置，可以简便进行应力及选择取向的评价。进行In-Plane极图测试时，无论测试方向如何，通过利用全部线焦点的X射线源，能够确保足够的X射线强度和大面积的照射范固，保证在短时间内评价样品内的平均构造。另外，在In-Plane极图测试时，无需进行透射测试，就可以得到反射测试即可得到极图的全部数据。

 实现超强薄膜评价系统

 薄膜材料评价中，多层膜结构的反射率分析及样品表面垂直方向的结构分析的Out Off-Plane扫描和深度方向晶体结构变化及进行样品表面平行方向的结构分析的In-Plane扫描两者都需要。使用Ultima IV仪器，无需更换附件及光学系统，仅装上样品，即可简单切换这两种测试方法。

 薄膜评价：

 •定性分析

 •薄膜评价应用

 •结晶性评价

 •残余应力评价

 •膜厚评价与

 •表面．界面粗糙度评价

 •密度评价

 X射线衍射仪应用

 X射线衍射技术主要应用于包括金属和合金等样品的物相定性或定量分析，晶体结构分析，材料的织构分析，宏观应力或微观应力的测定，晶粒大小测定，结晶度测定等。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。如：

 材料科学

 研究和发展先进材料，这项工作涉及研究各种物质的特性和使用，如金属，陶瓷和塑料，应用范围从空间科学和国防科技到消费类产品。X射线衍射（XRD）是研究先进材料的主要技术，包括下列功能：相的识别和定量，相的结晶度判定，晶体结构，晶体取向和织构，极图等。这些功能的非环境条件影响也同XRD技术一起经常研究。搜索可针对各种样品类型，从粉末到各种形状和尺寸的固体材料，液体和半导体晶片。专业技术和经验为材料科学应用提供一系列解决方案。

 地质及采矿

 在研究行星进程和地球构造过程中，地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。X射线衍射仪分析技术如：小点激发，分布分析和无标定量分析，日渐成为地质研究及矿物学研究领域内的主要仪器。X射线衍射仪（XRD）可定量测量相组成。X射线衍射数据的Rietveld分析被认为是晶体相定量分析最适合的方法。

 涂层/薄膜

 现代生活的每个环节都得益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片上的阻挡层薄膜还是铝制饮料罐上的涂层，X射线是研发，产品过程控制和质量保证不可缺少的分析技术。作为纳米技术研究的领导者，X射线衍射（XRD）和附属技术被用于确定薄膜分子结构的性质。理学专业的技术和经验为涂层和薄膜测量提供各种无损分析解决方案。