多功能光电子能谱仪

多功能光电子能谱仪

仪器型号:Kratos Axis Ulra DLD
360.00~2160.00

委托实验

型号:Kratos Axis Ulra DLD
科技公共实验室
科技公共实验室
所在地区:广州市
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详细信息

主要技术指标:

1. 能量分辨率:0.48eV

2. 成像空间分辨率:3微米

3. 最小分析区域:15微米

应用范围:

1、 各种固体材料(各种粉末材料如催化剂等、金属、半导体、陶瓷、矿物、导电玻璃、表面镀膜材料)表面的元素成分定性、定量检测及元素价态分析;
2、 样品元素组份沿深度变化的检测;
3、 机械零件及电子元器件的失效分析;
4、 材料表面污染物分析;
5、 各种镀膜材料的镀膜成分定性,定量分析,膜层的结构分析;
6、 材料表面改性分析研究

备注:

(一)送样要求:1.请保持样品原始表面洁净,勿用手或脏污的器皿直接接触样品; 2.样品为固体样品,无磁性,无挥发性、放气性弱;3.块状样品请自行取样到小于10mm×10mm×4mm(长×宽×高),放气性样品请将样品尽量取小;4.溶液样品,请用玻片、硅片、钛片等成膜,然后取样成要求尺寸。 

(二)检测报告:仅出具表面元素信息,如需要样品整体分析或性能评价另行商谈。

多功能X光电子能谱(Kratos Axis Ultra DLD)收费标准多功能光电子能谱仪
收费项目名称单位所属类别市场价(元)
1.XPS常规测试样 测试费720(实时价)
2.XPS表面清洁处理 样 测试费480
3.角分辨XPS测试(3个角度)样 测试费900(实时价)
3.角分辨XPS测试(5个角度)样 测试费2160
4.XPS深度剖析测试 (<1微米)测试费2160
超过3h,按每小时600元加收测试费,微米级别样品深度剖析请选择其它测试方法。
5.解谱费(III类) 谱 分析费2400-3600
6.计量认证样品测试费 (常规测试)样 测试费按市场价双倍收费
7.计量认证样品解谱费(常规样品解谱费) 谱 只提供表面元素信息,不提供主观价态分析信息。
备注:
(一)送样要求:1.请保持样品原始表面洁净,勿用手或脏污的器皿直接接触样品; 2.样品为固体样品,无磁性,无挥发性、放气性弱;3.块状样品请自行取样到小于10mm×10mm×4mm(长×宽×高),放气性样品请将样品尽量取小;4.溶液样品,请用玻片、硅片、钛片等成膜,然后取样成要求尺寸。 
(二)检测报告:仅出具表面元素信息,如需要样品整体分析或性能评价另行商谈。

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