主要技术指标:
1. 能量分辨率:0.48eV
2. 成像空间分辨率:3微米
3. 最小分析区域:15微米
应用范围:
1、 各种固体材料(各种粉末材料如催化剂等、金属、半导体、陶瓷、矿物、导电玻璃、表面镀膜材料)表面的元素成分定性、定量检测及元素价态分析;
2、 样品元素组份沿深度变化的检测;
3、 机械零件及电子元器件的失效分析;
4、 材料表面污染物分析;
5、 各种镀膜材料的镀膜成分定性,定量分析,膜层的结构分析;
6、 材料表面改性分析研究
备注:
(一)送样要求:1.请保持样品原始表面洁净,勿用手或脏污的器皿直接接触样品; 2.样品为固体样品,无磁性,无挥发性、放气性弱;3.块状样品请自行取样到小于10mm×10mm×4mm(长×宽×高),放气性样品请将样品尽量取小;4.溶液样品,请用玻片、硅片、钛片等成膜,然后取样成要求尺寸。
(二)检测报告:仅出具表面元素信息,如需要样品整体分析或性能评价另行商谈。
多功能X光电子能谱(Kratos Axis Ultra DLD)收费标准 | 多功能光电子能谱仪 | ||
收费项目名称 | 单位 | 所属类别 | 市场价(元) |
1.XPS常规测试 | 样 | 测试费 | 720(实时价) |
2.XPS表面清洁处理 | 样 | 测试费 | 480 |
3.角分辨XPS测试(3个角度) | 样 | 测试费 | 900(实时价) |
3.角分辨XPS测试(5个角度) | 样 | 测试费 | 2160 |
4.XPS深度剖析测试 (<1微米) | 样 | 测试费 | 2160 |
超过3h,按每小时600元加收测试费,微米级别样品深度剖析请选择其它测试方法。 | |||
5.解谱费(III类) | 谱 | 分析费 | 2400-3600 |
6.计量认证样品测试费 (常规测试) | 样 | 测试费 | 按市场价双倍收费 |
7.计量认证样品解谱费(常规样品解谱费) | 谱 | 只提供表面元素信息,不提供主观价态分析信息。 | |
备注: (一)送样要求:1.请保持样品原始表面洁净,勿用手或脏污的器皿直接接触样品; 2.样品为固体样品,无磁性,无挥发性、放气性弱;3.块状样品请自行取样到小于10mm×10mm×4mm(长×宽×高),放气性样品请将样品尽量取小;4.溶液样品,请用玻片、硅片、钛片等成膜,然后取样成要求尺寸。 (二)检测报告:仅出具表面元素信息,如需要样品整体分析或性能评价另行商谈。 |