主要技术指标：
1．分辨率：0.8nm(15kV)，3nm(30kV BSE)
2．束流：10pA- 40nA
3．放大倍率：12X - 2 000 000X
4．加速电压：0.05kV - 30kV
5．检测器：In-lens 、SE、EsB、AsB、STEM检测器。
6．能量谱仪(EDS)：X-MaxN20双探测器系统（英国Oxford公司）；
应用范围：
1．金属、陶瓷、高分子、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、生物等材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察和分析。
2．各种材料微区化学成分的定性和半定量检测。
3．粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定。
4．复合材料界面特性的研究。
备注：1.机时从充气放样开始计，最小计费单位0.5小时，不足0.5小时按0.5小时计费。 2.校外客户每样限照片5张，超过每张20元；能谱分析限3个点，超过每点50元。
| Merlin场发射扫描电镜收费标准 | 高分辨场发射扫描电子显微镜 | ||
| 收费项目名称 | 单位 | 所属类别 | 市场价（元） |
| 1.样品形貌分析费 | / | 测试费 | 360/样 |
| 2.样品成分分析费 | / | 测试费 | 360/样 |
| 3.样品形貌与成分分析费 | / | 测试费 | 600/样 |
| 4.STEM测试费 | / | 测试费 | 600/样 |
| 5.STEM测试样品费 | 样 | 处理费 | / |
| 6.样品费 | 样 | 处理费 | / |
| 7.镀金费 | 次 | 测试费 | 240 |
| 8.计量认证样品 | 样 | 测试费 | 按市场价双倍收费 |
| 备注：1.机时从充气放样开始计，最小计费单位0.5小时，不足0.5小时按0.5小时计费。 2.每样限照片5张，超过每张20元；能谱分析限3个点，超过每点50元。 | |||
