X射线多晶衍射仪-Bruker:德国Bruker D8 ADVANCE X射线多晶衍射仪-Rigaku:日本 Rigaku SmartLab SE
主要技术指标:
德国Bruker
X射线光源输出功率:3kW;
2θ测量范围:-100°~150°;
测角准确度:≤0.01°
重复性:≤0.001°
复现性:≤0.002°;
LynxEye阵列探测器:
动态范围:1 x 108 cps
能量分辨率:≤20% (Cu)。
主要附件:
XYZ高精度样品台;GöbelMirror。
应用范围:
1、各种无机材料、金属材料、有机材料、复合材料的物相定性分析;
2、晶体物质的定量、半定量分析;
3、晶粒大小分析;
4、结晶度分析;
5、微区衍射分析;
6、薄膜物相(掠入射法)分析。
主要技术指标:
X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)
CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)
高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)
智能的测量分析软件SmartLab Guidance
θ/θ设计,样品可以水平放置
为高分辨扫描而采用的闭环驱动系统
可选的9.0 kW转靶发生器
全部系统自动调整
300 mm wafer handling
专利的CBO技术使聚焦光与平行光自动切换,无需重新配置
In-plane衍射臂用于in-plane测量无需重新配置
高分辨光学系统
附加功能:
高低温样品测试
平行光路和聚焦光路
微区衍射测试
极图/残余应力测试
小角X射线散射(SAXS)
原位测试(改变温度或湿度)
应用范围:
1、适用于各种无机材料、金属材料、有机材料、复合材料、粉末和液体的物相定性分析;
2、晶体物质的定量、半定量分析;
3、晶粒大小分析;
4、结晶度分析;
5、微区衍射分析;
6、薄膜物相(掠入射法)分析;
7. in-plane衍射;
8. X射线反射率;
9. 小角X射线衍射(SAXS)。