原子力显微镜介绍

原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质，在物理领域应用广泛。

原子力显微镜技术指标：

120nm水平分辨率，1nm垂直显示分辨率，10nm垂直扫描分辨率。

检测项目

测试项目：2D、3D、粗糙度、高度、沟痕深度。

样品要求

样品无磁性，块体，薄膜，粉末均可，粉末样品请务必写清楚分散剂以及超声时间，块状样品不超过2cm*2cm。粉末样品提供20-30mg，量少请用称量纸包好再装到管子里寄送。

每个样品如纳米片在单张图片内，则按照样品收费，每个样品180元，如需要多次扫描，达到30个纳米片，则每次扫描120元（给出可实际使用的图计算）。 如需要样品整体分析以及性能评价请详细说明（按样品实际价格）